http://se.ethz.ch/people/leitner/publications/min_leitner_ase_2007.pdf
간단하게 주요 내용만을 확인하고 정리해본다. 논문에서는 test case의 code 또한 complexity level이 높아지고 size도 커지기 때문에 defect가 발생을 하였을 때 TC 내부에서 이에 대한 추적이 쉽지 않다고 설명한다.( assert 등에 의해서 fail의 위치 확인은 가능하겠으나 이에 대한 근원지를 찾는 것이 어렵다고 설명한다. ) 논문에서는 tc를 slice라는 단위로 구분하고 fail이 발생하였을 때 fail과 관계되는 slice들만을 별도로 취합하여 minimized tc를 제공한다. 이때 size가 현격하게 줄어 bug발생 위치의 추적이 용이하다고 설명한다. algorithm도 설명을 하는 듯 한데 아직 자세하게 살펴보지 못하였다.
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